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      深圳市精誠儀器儀表有限公司

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      不了解X射線膜厚測試機的可以看看這篇介紹
      點擊次數:303 發布時間:2022-02-23
        X射線膜厚測試機主要用于測量設備的生產中不可或缺的極薄膜、多層膜乃至半導體晶圓的硅膠基板厚度,膜厚儀可滿足用戶各種各樣的需求?;旧纤泄饣?、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。
        X射線膜厚測試機采用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。
        在膜厚測量電路中,正弦振蕩器IC1、IC2產生頻率為1-100kHz的正弦波,加在變壓器B1初級上,次級輸出的正弦信號加到橋式電路的輸入端,由該橋路在非平衡狀態下獲取金屬材料表面的渦流變化;渦流變化量由檢測放大器IC3進行適當放大,再經交流放大器IC4和IC5放大數十倍后,經轉換電路將渦流變化量轉換為膜厚,由指示儀表顯示。
        X射線膜厚測試機的產品特點有哪些?
        1、該膜厚儀嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制
        2、測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統誤差
        3、支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇
        4、實時顯示測量結果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數據
        5、配置標準量塊用于系統標定,保證測試的精度和數據一致性
        6、支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能
        7、微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板
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